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SRAM DFT (design for test) debug

案件編號 TK25102911XUBZ49 ・2026/01/26 更新

預算金額
$300,000
執行地點
可遠端
期望完成日
2025/11/30
接案身份
不限
需求說明
用於哪個行業：IC 半導體細節說明：SRAM量產DFT pattern有問題,需要能了解DFT pattern的原理並看懂原SRAM設計,找出為何DFT pattern有問題並修正

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