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案件編號 TK25051816LPRH00 ・2025/06/07 更新
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大約一分鐘的影片: 隨著晶片功能越來越強,越來越多,晶片I/O數越來越多,越來越大,越來越薄 因此發展出facedown的 die bond,face down的fcb,tcb以及hybrid bond 等,晶片也面臨各式的挑戰如warpage,cold joint, void等挑戰...
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